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      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀

      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀

      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀探測器像素高達4096個,響應范圍覆蓋UV至NIR波段(180-1100nm)。
      詢價電話:
      400 901 1718
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        張建杰

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      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀探測器像素高達4096個,響應范圍覆蓋UV至NIR波段(180-1100nm)。


      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀產品簡介:

      ATP3011P系列是新研制的高分辨率光纖光譜儀,其探測器像素高達4096個,響應范圍覆蓋UV至NIR波段(180-1100 nm)。光路、電路、信號處理方法均進行了深度優化,從而實現了高分辨率、低噪聲的性能。

      采用TE深度制冷的ATP3011P,進一步提高了信噪比和動態范圍。

      ATP3011P只需一個5V直流電源供電,數據輸出接口有USB2.0或者UART,便于集成使用。

      型號

      探測器像素

      探測器是否制冷

      ATP3000

      2048像素

      探測器非制冷

      ATP3040

      4096像素

      探測器非制冷


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      圖2:長焦長、Czerny-Turner全反射式光學設計

      機械尺寸:

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      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀產品特征:

      探測器像素:4096

      高分辨率:*低至0.01nm

      高靈敏度:650V(lx?s)

      響應范圍:180 - 1100 nm

      探測器制冷溫度:0 ℃

      *大讀出速率:10 MHz max

      光路結構:交叉C-T

      積分時間:1-65535 ms

      供電電源:DC 5V±10% @<2A

      光輸入接口:SMA905或自由空間

      數據輸出接口:USB2.0(High speed)或UART


      ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀產品應用:

      微量、快速分光光度計

      光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

      透過率、吸光度檢測

      反射率檢測

      波長檢測(紫外、可見和短波近紅外)

      橢偏儀



      如需了解更多 ATP3040高分辨率低噪聲微型光纖光譜儀 原理、使用方法、操作視頻、技術參數、說明書文檔,請聯系51儀器儀表網工作人員。
      電話:400 901 1718
      聯系人:張建杰
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