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      歐美克 Topsizer Plus激光粒度分析儀

      歐美克 Topsizer Plus激光粒度分析儀

      Topsizer Plus激光粒度分析儀測量樣品的粒度分布。既可測量在液體中分散的樣品,也可測量須在氣體中分散的粉體材料。
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      Topsizer Plus激光粒度分析儀測量樣品的粒度分布。既可測量在液體中分散的樣品,也可測量須在氣體中分散的粉體材料。


      歐美克 Topsizer Plus激光粒度分析儀產品簡介:

      儀器引入了先進的光學設計,采用全球化的供應鏈體系,使激光衍射法的測試范圍達0.01-3600um。

      Topsizer Plus保持了Topsizer量程寬、重復性好、分辨力高、真實測試性能強和智能化程度高等優點,通過進一步提升光學設計、硬件和反演算法,

      拓展了其測試范圍以及實際測試性能,應用遍及化工、機械、建材、能源、醫藥等現代工業的各個領域。


      適用于鋰離子電池、制藥、水文和精細化工等諸多行業,測試結果準確。不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負*材料等,

      Topsizer系列產品保證了測試結果和分析能力與國內外、行業上下游黃金標準保持一致,這不僅為用戶節省了方法開發和方法轉移上的時間和成本,

      重要的是可避免粒度檢測不準帶來的經濟損失和風險,無論在研發、過程控制還是質量控制上,都能夠為用戶帶來價值。


      Topsizer Plus激光粒度分析儀.png

      Topsizer Plus激光粒度分析儀工作原理:


      一束平行光在傳播過程中遇到障礙物顆粒,光波會發生散射(衍射)偏轉,偏轉的角度跟顆粒的大小相關,散射(衍射)現象可以通過“Mie散射理論 ”來描述。顆粒粒徑越大,光波偏轉的角度越小;顆粒粒徑越小,光波偏轉角度越大。激光粒度分析儀就是利用顆粒對光的散射現象,根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。

      通過對光學、算法、機械、電子、計算機等系統的整合和優化,使歐美克激光粒度儀具備重復性良好、動態測量范圍寬廣、操作簡單方便等優點。


      光學系統


      Topsizer Plus激光粒度分析儀.jpg


      雙光源技術

      Topsizer Plus激光粒度分析儀采用雙光源設計,紅光主光源為進口氦-氖激光器,波長0.6328μm;并有半導體藍光輔助光源,波長0.466μm,提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。在國產激光粒度分析儀中,紅藍雙色光源技術為歐美克采用。


      進口高性能氦氖激光器及電源

      采用以長壽命,低噪聲,高穩定性著稱的進口知名品牌氦氖激光器及配套激光電源,為儀器提供理想的光學質量偏振光源。在氣體激光器本身帶來的穩定波長基礎上,Topsizer Plus激光粒度分析儀采用的高性能光源系統同時具備功率穩定, 預熱時間短, 偏振比高而穩定,模式純度高等高性能激光粒度儀須的光學特性。確保儀器在不同工作環境下都能保持穩定工作,并帶來無需標定的準確性性能。


      直線光路設計

      Topsizer Plus激光粒度分析儀光路系統采用密閉式直線光路設計,無多余反射光學部件造成的雜散光,亦無粉塵污染干擾,同時采用高精度全鋁合金光學平臺,確保光路穩固可靠。


      后傅立葉變換單鏡頭設計

      單鏡頭設計,采用透鏡后傅立葉變換結構,突破了傅立葉透鏡的光瞳制約,使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制;而且單鏡頭光路中的折射、反射面減少,可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲至低水平,提高了儀器測量時的信噪比。


      長焦距的傅里葉透鏡

      Topsizer Plus激光粒度分析儀選用具有較長焦距的傅立葉透鏡,這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離(也就是有效焦距),從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號,大大增強了儀器對大顆粒的測試能力,儀器的測量上限達3600μm。


      合理分布、高感光度的進口光電探測器

        Topsizer Plus激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進口光電探測器,確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數多達103個,由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統,探測角范圍達到0.016-140度。結合藍光散射信號,實現了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收,有效保證顆粒散射光能信息的*面準確獲取。


      智能自動對中

        智能軟件控制自動對中系統保證了準確的光學對中。自動對中在幾十秒內即可完成,既可作為自動測量的一部分,亦可在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統保證了多次測量的重復性。


      分散系統

      標配SCF-108A循環進樣器,采用(號:2012204087053)的燈籠頭下壓式水流循環回路設計,配備大功率準確自動控制攪拌電機,轉速可達3500轉/分鐘的同時減少了氣泡和液體飛濺的產生,并具有良好的分散、清洗、排干能力。內置功率大至50W的管路超聲裝置,超聲強度無級連續可調。標配1000毫升樣品池,可根據客戶需求更換容量。

      根據需要可選擇更多不同特性(例如微量、微量循環、耐腐蝕等)的濕法進樣器。

      干法進樣系統:標配DPF-110自動干法進樣器,分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調,三重可調下料機

      構設計,可適應于各種樣品測試對分散強度的要求。內置分散壓傳感器和負壓傳感器,測試窗口全密閉,具有負壓保護裝置,可有效防止窗口和主機的污染。



      功能強大的分析軟件

      豐富的自定義報表功能,方便用戶靈活的獲取數據和定制報表樣式。

      用戶可以靈活定義報告的標題、Logo,選擇在報告中顯示的模塊,并對這些模塊進行設置。如可調整行數、列數,坐標軸范圍,報告內容和參數等均可根據需要設定。

      Topsizer Plus激光粒度分析儀.png

      軟件設計模塊化,儀器狀態可視化,操作界面人性化。流程界面清晰明了,擁有導航功能。

      儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統;每次測量前能自動測量電背景,有效減少電噪聲對測試結果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試,手動測樣亦有清晰的導航測試功能。

      Topsizer Plus激光粒度分析儀.png

      具備SOP標準操作流程,減少人為因素的影響,使分析測試流程標準化。


      SOP測量程序編輯及運行:

      Topsizer Plus激光粒度分析儀.jpg


      多種數據分析模型,滿足不同特性樣品的測試需要。體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換??筛鶕脩粜枰O置指定的粒徑段。


      Topsizer Plus激光粒度分析儀.jpg

      完善、開放的樣品特性參數數據庫,具有常用樣品折射率和吸收率參數。


      Topsizer Plus激光粒度分析儀.jpg

      多種方式的測量數據導出,方便數據交流。



      具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能


       

      良好的儀器性能

      Topsizer Plus對于Topsizer的升級中的一個重要特點是保留了在 0.02-2000um段數據與 Topsizer一致。通過光路、硬件和算法的升級進一步提升了測試范圍至0.01-3600um。


      寬廣的測量范圍

      與市場上其他使用不同技術通過拼接的方案提高測試范圍不同,Topsizer Plus的實測范圍為0.01-3600um,使用靜態光散射一種技術實現從亞微米顆粒到毫米級顆粒的檢測,嚴格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的國標要求,并能滿足不同粉體行業對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。


      寬分布樣品

      對大顆粒具有強大測試能力

      7-14目玻璃微珠

      對納米、亞微米等超細顆粒具備良好識別能力

      100nm latex


      杰出的分辨能力

      Topsizer Plus能夠準確測定樣品中顆粒分布的微小變化,準確反映樣品的實際粒度分布,能夠滿足技術研究和質量控制的需要。圖中的混合物樣品為5.1um/14um/37.8um標樣按比例配置。

      良好的再現性

      不同主機或不同進樣器之間具有良好的再現性。

      快速的測試速度

      Topsizer Plus優異快速的分散系統為儀器的快速測試提供了良好前提,使常規的測試能在10秒內快速完成,大幅提升了測試的效率,更好的滿足了用戶的需求。


      高靈敏度

      多達103個光電探測通道,由雙光源及前向、側向、大角度、后向光電探測器組成三維立體無盲區檢測系統,探測角度可達140度。每次測試之前,軟件自動檢測信噪度,使儀器對大小顆粒的微小變化有著良好的靈敏度。

      優良的適應性

      可選具有強分散能力分散系統,即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀,從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。




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