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      日本OLYMPUS OmniScan MX高級探傷儀

      日本OLYMPUS OmniScan MX高級探傷儀

      日本OLYMPUS OmniScan MX厲害探傷儀其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。
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      日本OLYMPUS OmniScan MX厲害探傷儀其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。


      日本OLYMPUS OmniScan MX厲害探傷儀產品簡介:
      ?其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發送接收式
      ?工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項
      ?渦流陣列技術(ECA)以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈,并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據, 可避免不同線圈之間的互感 
      ?OmniScan? ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈(使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個)
      ?C掃描視圖中的數據采集,可快速有效地檢測缺陷
      ?分析模式下的數據選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號
      ?波幅、相位和位置測量
      ?可調彩色調色板
      ?大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規單通道ECT探頭檢測相適應
      ?一組中的*有通道可被同時校準,每個通道各有自己的增益和旋轉
      ?波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定
      ?3個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起
      ?可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀(扇形、長方形、環形等)
      ?探頭被連接后,C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置
      ?頻率范圍保護可避免損壞探頭
      ?分析模式下的求差工具,該功能可去除在相鄰通道間的提離變化
      ?實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示
      ?使用兩個頻率,可生成一個MIX信號,以去除干擾信號(如:提離、緊固件信號等)
      ?數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例:在搭接處邊緣檢測出裂紋,因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果,特別是對小裂紋而言

      日本OLYMPUS OmniScan MX厲害探傷儀產品特點:
      ?檢測時間大幅度降低
      ?單次掃查覆蓋更大檢測區域
      ?減小了機械和自動掃查系統的復雜性
      ?提供檢測區域實時圖像,便于數據的判讀
      ?很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測
      ?改進了檢測的可靠性和檢出率(POD)
      ?渦流陣列探頭,Olympus NDT制造的R/D Tech? ECA探頭可適用于廣泛的應用領域
      ?根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷,以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷 



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