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      美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計

      美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計

      美國International Light ILT2400輻照計可自由配置光探測器、輸入光學器件、過濾片和校準片,用于測量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光學參數。測量速度高達100μs,內置可充電電池持續長達8小時,4.3寸觸摸屏顯示,可橫向和縱向觀看,以手持價格研究質量
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      美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計產品簡介:

      美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長高能量曝光測量

      ILT2400輻照計以手持價格提供研究級質量,采用可分離探頭設計,具有8個量級的動態測量范圍,測量速度可達100μs,內置可充電電池持續長達8小時,4.3寸觸摸屏顯示,可橫向和縱向查看讀數或圖形曲線。XSD340B探頭響應波段326-401 nm,校準于365nm波長,可測量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源輻照強度。ILT測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。

      國際光學International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統用于326-401nm波段紫外線輻照度監測,校準于365nm光阻劑作用光譜,地知道光致抗蝕劑曝光的程度,可測量高達30W/cm2 高能量強度,用于PCB印刷電路板光及半導體業。


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